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產(chǎn)品中心表面分析飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
更新時(shí)間：2024-09-12
產(chǎn)品型號(hào)：PHI nano TOF3+
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